1、在電擊穿的同時(shí)，回路中電流增加和試樣兩端電壓下降。電流的增加可使斷路器跳開(kāi)或熔絲燒斷．但是有時(shí)也可由于閃絡(luò)、試樣充電電流、漏電或局部版電電流、設(shè)備磁化電流或誤動(dòng)作而引起斷路囂跳開(kāi)．因此，斷路器應(yīng)與試驗(yàn)設(shè)備及被試材料的特性相匹配，否則，斷路器可能會(huì)在試樣未擊穿時(shí)動(dòng)作或當(dāng)試樣擊穿時(shí)斷路器不動(dòng)作，這樣便不能正確地判斷出是否擊穿。即使在zuihao的條件下，也存在周圍媒質(zhì)先擊穿的情況也會(huì)發(fā)生。因此，在試驗(yàn)過(guò)程中要注意觀察和檢測(cè)這些現(xiàn)象，若發(fā)現(xiàn)媒質(zhì)擊穿，應(yīng)在報(bào)告中注明．

注：對(duì)漏電檢測(cè)電路敏感性特別重要的那些材料，在這種材料的標(biāo)準(zhǔn)中也應(yīng)作同樣的說(shuō)明。

2、在垂直于材料表面方向試驗(yàn)時(shí)通常容易判斷，無(wú)論通道是否充有碳粒，當(dāng)擊穿發(fā)生后用肉眼容易看到真實(shí)擊穿的通道．

3、當(dāng)平行于材料表面方向試驗(yàn)時(shí)，要求判斷是由試樣破壞引起的擊穿現(xiàn)象還是由閃絡(luò)引起的失效。可以通過(guò)檢查試樣或使用再施加一次電壓的辦法來(lái)進(jìn)行鑒別，再次施加的電壓值應(yīng)小于第一次施加的擊穿電壓值。試驗(yàn)證明，再次施加的電壓值為di一次擊穿電壓值的50%比較合適，然后用與di一次試驗(yàn)相同的方法升壓直到破壞。

華測(cè)其他相關(guān)產(chǎn)品：

 可按用戶要求訂制非標(biāo)產(chǎn)品

華測(cè)儀器--致力于材料電學(xué)測(cè)試技術(shù)