服務熱線
010-86460119
歡迎訪問北京華測試驗儀器有限公司網(wǎng)站
全國統(tǒng)一服務熱線：
13911821020
技術(shù)文章您當前的位置：首頁 > 技術(shù)文章
2024-11-02
半導體封裝材料高溫絕緣電阻測試有以下應用場景：1.半導體器件封裝領(lǐng)域：-環(huán)氧塑封料（EMC）性能評估：環(huán)氧塑封料是半導體芯片封裝的常用材料，對其進行高溫絕緣電阻測試可以檢驗材料在高溫環(huán)境下的絕緣性能，確保芯片在工作過程中不會因封裝材料的絕緣問題而出現(xiàn)漏電、短路等故障。比如在功率電子器件的封裝中，對環(huán)氧塑封料的絕緣要求更高，通過測試可以篩選出符合要求的材料，保障器件的可靠性和穩(wěn)定性。-封裝結(jié)構(gòu)的可靠性驗證：在半導體封裝結(jié)構(gòu)中，不同材料之間的界面以及封裝內(nèi)部的連接部位，在高溫條件...2024-11-01
電容器溫度特性評估系統(tǒng)的應用范圍主要集中在哪幾方面？一、電容器本身性能的評估1.溫度穩(wěn)定性評估：通過模擬電容器在不同溫度條件下的工作環(huán)境，測量并記錄其關(guān)鍵參數(shù)（如電容值、損耗角正切值等）隨溫度的變化情況，從而評估電容器的溫度穩(wěn)定性。這對于預測電容器的使用壽命、確保其在實際應用中的性能穩(wěn)定具有重要意義。2.熱性能評估：系統(tǒng)能夠?qū)崟r監(jiān)測電容器在不同工作條件下的溫度狀態(tài)，評估其散熱性能和容量是否滿足設(shè)計要求。這對于優(yōu)化電容器的設(shè)計和選型至關(guān)重要。二、電子設(shè)備與系統(tǒng)的穩(wěn)定性與可靠性評...2024-10-31
鐵電分析儀支持哪些擴展功能?鐵電分析儀是一種用于研究和測試鐵電材料性能的精密儀器，其擴展功能十分豐富，通常包括但不限于以下方面：一、基本測試功能的擴展鐵電分析儀在不改變樣品連接的情況下，可執(zhí)行多種基本測試功能的擴展，如：電滯回線測試：測量鐵電材料的電滯回線，是鐵電性能測試的基礎(chǔ)。脈沖測試：對鐵電材料施加脈沖信號，觀察其響應特性。漏電流測試：測量鐵電材料在電場作用下的漏電流，評估其絕緣性能。IV和CV測試：分別測量鐵電材料的電流-電壓（I-V）和電容-電壓（C-V）特性。二、特...2024-10-30
200V高壓放大器的技術(shù)特性與應用實踐一、概述HCAM-200V專為需要超出大多數(shù)波形、函數(shù)或脈沖發(fā)生器的標準電壓限制的高壓放大應用而設(shè)計。HCAM-200V的最大輸出電壓為400Vp-p，標配+50的固定增益。額定電流為100mA，輸出阻抗為0.2?。有獨立的緩沖電壓監(jiān)測器輸出，用于需要低電平輸出信號表示的應用。對于50?的輸入，緩沖器的減少量為20:1，對于1M?及以上的輸入，減少量為100:1。電流限制功能在兩個方向上感測輸出電流。這為放大器在運行過程中提供了最大的保護...2024-10-29
影響固體擊穿電壓的因素分為哪些？影響固體擊穿電壓的因素是多方面的，主要包括以下幾個方面：1.電壓作用時間短時間作用：在沖擊電壓作用下，主要發(fā)生電擊穿，此時擊穿電壓較高。長時間作用：在周期性過電壓或交流實驗電壓較長時間作用下，熱擊穿占主導地位，擊穿電壓會降低。若電壓作用時間非常長，還可能導致電化學擊穿，擊穿電壓進一步下降。2.電場均勻程度與介質(zhì)厚度電場均勻性：對于電擊穿過程，電場越均勻，擊穿電壓越高。然而，在熱擊穿過程中，如果散熱條件不佳，介質(zhì)厚度的增加反而不利于散熱，可能導致...2024-10-29
影響固體擊穿電壓的因素分為哪些？影響固體擊穿電壓的因素是多方面的，主要包括以下幾個方面：1.電壓作用時間短時間作用：在沖擊電壓作用下，主要發(fā)生電擊穿，此時擊穿電壓較高。長時間作用：在周期性過電壓或交流實驗電壓較長時間作用下，熱擊穿占主導地位，擊穿電壓會降低。若電壓作用時間非常長，還可能導致電化學擊穿，擊穿電壓進一步下降。2.電場均勻程度與介質(zhì)厚度電場均勻性：對于電擊穿過程，電場越均勻，擊穿電壓越高。然而，在熱擊穿過程中，如果散熱條件不佳，介質(zhì)厚度的增加反而不利于散熱，可能導致...2024-10-29
表面電荷測量系統(tǒng)的試驗原理為了研究固-氣界面電荷的消散現(xiàn)象，首先須在試樣表面施加一定的初始電荷。本系統(tǒng)采用經(jīng)典的電暈充電電路對試樣進行預充電，電極結(jié)構(gòu)如下圖，針電極施加正極或負極性高壓直流電壓，板電極接地，針電極針尖距離試樣表面10mm（可通過軟件調(diào)整距離），可軟通過件設(shè)置一定的充電試驗。采用靜電電何探頭對材料的表面電荷進行測量。為了對試樣表面進行掃描，通過步進電極搭建了針對二維平面的掃描平臺，如圖下所示。該平臺將2個線性模組垂直安放，帶動試樣臺進行二維平移運動，電荷探頭被垂...